嵌入式UICC卡的封装形式有两种，一种是采用SMD贴片封装工艺，就是将SIM卡芯片直接焊接在M2M终端模组上；一种是采用SIP（Simple in Packge）封装工艺，就是将SIM卡芯片和终端模块芯片封装在一体，外表看起来就是一块芯片，好像没有SIM卡了。
eUICC是embedded UICC的简称，中文名就是嵌入式UICC卡，其实就是eSIM，即嵌入式SIM卡。它可以与空中写卡，一号双卡相结合，提供换卡不换号的远程写卡服务。，主要是运营商的能力，在国内就如中国移动的OneLink，还有电信、联通。
eSIM卡：嵌入式（Embedded）SIM卡的简称，支持卡数据远程下载的实物卡（可为插拔式和嵌入式），卡中运营商数据以电子卡形式存在。eSIM卡生产后，支持将运营商的电子卡数据通过安全的方式下载到卡中。同一张卡可下载多个运营商数据，但同一时间仅支持激活一个运营商数据。
电源全模组和非模组的主要区别在于其内部电路的设计、安装方式、可维护性、价格。设计：全模组电源的内部电路是模块化的，每个模块都有自己的连接器和接口。这使得电源可以更加灵活地进行配置和升级，而不需要更换整个电源。而非模组电源则通常采用固定的电路板和连接器，无法进行模块化设计。
电源全模组和非模组的区别是外观不同、走线不同、线材不同和性能不同。外观不同 全模组电源最显眼的就是供电输出接口，在不连接供电线的情况下呈四方形，由于不受繁杂线材的困扰，整体外观可以做的更加精致漂亮。
外观不同非模块化电源从内部引出很多供电线路，而模块化电源被模块化接口板代替。拆开电源后可以看到，非模块电源的电源线是直接从PCB板引出的，而模块电源是在输出接口将PCB板引出的电源线连接到模块板上。不同的工作效率非模块电源的PCB板与电源线只有一个连接点，所以损耗很低。
输出不同 普通电源在输出设计上既有非模组电源的直接引出电源线部分，又有全模组电源的扩展接口部分，介于全模组和非模组电源之间。全模组电源包含电源扩展接口与单独的电源线两部分，用户可以按需组合。其最大的亮点在于，电源内部没有任何输出线引出，全部有扩展接口控制输出。
一样的只是叫法不同，微控制器叫的多的叫实验板，因为微控制器学校做实验用的多嘛，ARM，DSP等叫开发板比较多，因为用ARM，DSP开发板的公司买来开发板直接开发产品，产品开发出来后，再做硬体并去掉一些不用的模组，缩短开发周期嘛。对我们学习者的角度，都是实验板。
单片机，是MCU，微控制器。 是IC， 控制芯片，可以编程。核心板，就是把单片机做成一块板子。方便更换。开发板，就是把 核心板+外围电路板，用于开发自己想要的功能的一块电路板。
当然也区别啦，工控机，是电脑，工业上使用的电脑，比家用，办公用稳定。365天不停机也没有问题。单片机，是MCU，微控制器。 是IC， 控制芯片，可以编程。核心板，就是把单片机做成一块板子。方便更换。
基本定义：开发板是一种预装了必要硬件和软件的电路板，主要用于电子工程师和计算机开发者进行电路设计、系统开发、软件测试等任务。它为开发者提供了一个集成的环境，以便快速搭建和测试电路、设备或软件。通常开发板是基于特定的微处理器或微控制器设计，并配备必要的接口和扩展槽。
1、边界扫描测试的兴起可以追溯到20世纪80年代中期，当时是为了应对PCB物理访问难题，即随着新型封装技术导致电路板拥挤问题的出现。通过在芯片级别嵌入测试电路，边界扫描形成了全面的电路板级测试协议，使得对复杂装配进行测试、调试和在系统设备编程成为可能。
2、边扫描测试是在20世纪80年代中期做为解决PCB物理访问问题的JTAG接口发展起来的，这样的问题是新的封装技术导致电路板装配日益拥挤所产生的。边界扫描在芯片级层次上嵌入测试电路，以形成全面的电路板级测试协议。
3、其目标是访问和评估电路的边界扫描结构。这个标准详细规定了进行此类测试所需的硬件和软件配置。自1990年发布以来，IEEE对该标准进行了两次扩展，分别在1993年和1995年，形成了现今广泛应用的IEEE1141a-1993和IEEE1141b-1994版本。
4、边界扫描（Boundary Scan）测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT 测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。
5、JTAG， 或称为边界扫描技术，是在20世纪80年代中期为解决由于封装技术进步导致电路板拥挤而产生的PCB物理访问问题而发展起来的一种测试接口。这一技术在芯片级嵌入测试电路，构建出全面的电路板级测试协议，标准为IEEE 1141。它使得复杂的电路板装配能够进行测试、调试和在系统设备编程，有效诊断硬件问题。
6、在这个过程中，测试数据输入（TDI）线将数据加载到指令寄存器或数据寄存器中，然后数据通过串行方式从测试数据输出（TDO）线传出。边界扫描逻辑的运行依赖于测试时钟（TCK）信号的定时，而测试模式选择（TMS）信号则控制TAP控制器的工作状态。可选的测试重置（TRST）功能在某些情况下可以使用。